產品中心您的位置↟◕•:網站首頁 > 產品中心 > 粒度分析裝置 > ZS 920 動態光散射奈米粒度儀 > S920動態光散射奈米粒度和zeta電位儀

動態光散射奈米粒度和zeta電位儀

更新時間↟◕•:2022-05-25

訪問量↟◕•:464

廠商性質↟◕•:生產廠家

裝置型號↟◕•:S920

簡要描述↟◕•:
梓夢科技動態光散射奈米粒度和zeta電位儀原理
當鐳射照射到分散於液體介質中的微小顆粒時││☁▩,由於顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移││☁▩,導致散射光訊號隨時間發生動態變化││☁▩,該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關││☁▩,而顆粒的布朗運動速度又取決於顆粒粒徑的大小││☁▩,顆粒大布朗運動速度低││☁▩,反之顆粒小布朗運動速度高
品牌其他品牌產地國產
產品新舊全新自動化程度全自動

動態光散射奈米粒度和zeta電位儀

梓夢科技動態光散射奈米粒度及zeta電位分析儀原理

當鐳射照射到分散於液體介質中的微小顆粒時││☁▩,由於顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移││☁▩,導致散射光訊號隨時間發生動態變化││☁▩,該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關││☁▩,而顆粒的布朗運動速度又取決於顆粒粒徑的大小││☁▩,顆粒大布朗運動速度低││☁▩,反之顆粒小布朗運動速度高││☁▩,因此動態光散射奈米粒度及zeta電位分析儀技術是分析樣品顆粒的散射光強隨時間的漲落規律││☁▩,使用光子探測器在固定的角度採集散射光││☁▩,透過相關器進行自相關運算得到相關函式││☁▩,再經過數學反演獲得顆粒粒徑資訊₪▩·。


動態光散射奈米粒度及zeta電位分析儀效能特點

1☁✘、高效的光路系統↟◕•:採用固體鐳射器和一體化光纖技術整合的光路││☁▩,充分滿足空間相干性的要求││☁▩,極大地提高了散射光訊號的信噪比₪▩·。

2☁✘、高靈敏度光子探測器↟◕•:採用計數型光電倍增管或雪崩光電二極體││☁▩,對光子訊號具有*的靈敏度和信噪比; 採用邊沿觸發模式對光子進行計數││☁▩,瞬間捕捉光子脈衝的變化₪▩·。

3☁✘、大動態範圍高速光子相關器↟◕•:採用高☁✘、低速通道搭配的結構設計光子相關器││☁▩,有效解決了硬體資源與通道數量之間的矛盾││☁▩,實現了大的動態範圍││☁▩,並保證了相關函式基線的穩定性₪▩·。

4☁✘、高精度溫控系統↟◕•:基於半導體制冷技術││☁▩,採用自適應PID控制演算法││☁▩,使樣品池溫度控制精度達±0.1℃₪▩·。

5☁✘、資料篩選功能↟◕•:引入分位數檢測異常值的方法││☁▩,鑑別受灰塵干擾的散射光資料││☁▩,並剔除異常值││☁▩,提高粒度測量結果的準確度₪▩·。

6☁✘、最佳化的反演演算法↟◕•:採用優擬合累積反演演算法計算平均粒徑及多分散係數││☁▩,基於非負約束正則化演算法反演顆粒粒度分佈││☁▩,測量結果的準確度和重複性都優於1%₪▩·。


奈米粒度及zeta電位分析儀測量

奈米粒度及zeta電位分析儀是表徵分散體系穩定性的重要指標zeta電位愈高││☁▩,顆粒間的相互排斥力越大││☁▩,膠體體系愈穩定││☁▩, 因此透過電泳光散射法測量zeta電位可以預測膠體的穩定性₪▩·。


動態光散射奈米粒度及zeta電位分析儀原理

帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運動││☁▩,單位電場強度下的電泳速度定義為電泳遷移率₪▩·。顆粒在電泳遷移時││☁▩,會帶著緊密吸附層和部分擴散層一起移動││☁▩,與液體之間形成滑動面││☁▩,滑動面與液體內部的電位差即為zeta電位₪▩·。Zeta電位與電泳遷移率的關係遵循 Henry方程││☁▩,透過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位₪▩·。


奈米粒度及zeta電位分析儀效能特點

1.利用光纖技術整合發射光路和接收光路││☁▩,替代傳統電泳光散射的分立光路││☁▩,使參考光和散射光訊號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾││☁▩,有效地提高了信噪比和抗干擾能力₪▩·。

2.先對散射光訊號進行頻譜預分析││☁▩,獲取需要細化分析的頻譜範圍││☁▩,然後在窄帶範圍內進行高解析度的頻譜細化分析││☁▩,從而獲得準確的散射光頻移₪▩·。

3.基於雙電層理論模型││☁▩,求解顆粒的雙電層厚度││☁▩,獲得準確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值││☁▩,再利用小二乘擬合算法獲得精確的Henry函式表示式││☁▩,進而有效提高了奈米粒度及zeta電位分析儀的計算精度₪▩·。

Henry函式的取值↟◕•:

當雙電層厚度遠遠小於顆粒的半徑││☁▩,即ka>>1││☁▩,Henry函式近似為1.5₪▩·。雙電層厚度遠遠大於顆粒半徑時││☁▩,即ka<<1││☁▩,Henry函式近似為1.0₪▩·。使用小二乘曲線擬合演算法對Wiersema計算的精確Henry函式值進行擬合││☁▩, 得到最佳化Henry函式表示式.


強大易用的控制軟體

ZS-920系列奈米粒度及zeta電位分析儀的控制軟體具有奈米顆粒粒度和zeta電位測量功能││☁▩,一鍵式測量││☁▩,自動調整散射光強││☁▩, 無需使用者干涉││☁▩,自動最佳化光子相關器引數││☁▩,以適應不同樣品││☁▩,讓測量變得如此輕鬆₪▩·。控制軟體更具有標準化操作(SOP)功能││☁▩,讓不同實驗室☁✘、不同實驗員間的測量按照同一標準進行││☁▩,測量結果更具有可比性₪▩·。測量完成自動生成報表││☁▩,以視覺化的方式展示測量結果││☁▩,讓測量結果一目瞭然₪▩·。

動態光散射奈米粒度及zeta電位分析儀的技術指標

動態光散射奈米粒度和zeta電位儀







留言框

  • 產品↟◕•:

  • 您的單位↟◕•:

  • 您的姓名↟◕•:

  • 聯絡電話↟◕•:

  • 常用郵箱↟◕•:

  • 省份↟◕•:

  • 詳細地址↟◕•:

  • 補充說明↟◕•:

  • 驗證碼↟◕•:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字)││☁▩,如↟◕•:三加四=7
    沒有相關產品資訊...

聯絡我們

contact us

諮詢電話

19916533110

掃一掃││☁▩,關注我們

返回頂部




japanese日本护士高潮,成年网站免费视频黄a站,热热色影音先锋,国内精品久久久久久久久长长